紫外(UV)レーザによる微細加工のタカノ株式会社

弊社では波長266nmのUVレーザを搭載した加工装置、
マーキング装置の販売を行なっております。
弊社独自の波長変換技術で、24時間の稼動およびフィールドでのメンテナンスが可能です。

製品情報

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お知らせ

News & Topics

2019.11.08

「SEMICON Japan 2019」出展のお知らせ

SEMI主催の展示会「SEMICON Japan 2019」はエレクトロニクス製造サプライチェーンの国際展示会であり、当社では半導体及び電子部材市場向けの外観検査装置・レーザーを出展いたします。貴社の「トレーサビリティ」向上に貢献する幅広いラインナップをご用意しているとともに、ご要望に合わせたカスタマイズも可能ですのでお気軽にご相談ください。

皆様におかれまして年末のお忙しい時期と思いますが、心よりご来場をお待ちしております。

 

展示会名:SEMICON Japan 2019

会  期:20191211()~13() 10:00~17:00

会  場:東京ビッグサイト(西展示場・会議棟)

小間番号:2034(西1ホール)

出展内容:異物検査装置、外観検査装置、UVレーザーマーカ等

 

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SEMICON Japan 2019     20191211()13()東京ビッグサイト》

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ご来場前に入場登録をお願いいたします。

展示会入場登録>> http://www.semiconjapan.org/jp/register

セミナー申込>> http://www.semiconjapan.org/jp/programs-sessions

来場登録後のログイン画面からもお申込みが可能です。

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本件に関するお問い合わせは以下の担当部署までご連絡ください。

タカノ株式会社 横浜技術開発センター 半導体システム営業部 email: semi-info@takano-net.co.jp


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2019.11.08

FPD(フラットパネルディスプレイ)検査装置・レーザ加工機を「第29回 液晶・有機EL・センサ技術展(ファインテック ジャパン)に出展

第29回 液晶・有機EL・センサ技術展(ファインテック ジャパン)は
日本最大のディスプレイ産業 展示会であり、当社では製品を4つのエリアでご紹介します。

また当日会場に来られない方で商品にご関心お持ちの方はお気軽にお問い合わせください。

 

■FPDエリア
FPD検査のトップシェアメーカーとして、次世代ディスプレイの研究開発から量産まで、最適な検査システムをご提案します。

■FILMエリア
5G、IoT、自動車用電池など、次世代製品の求める高品質を実現化する生産現場のご要求にお答えするHakeyesシリーズ検査システムをご紹介します。

■LASERエリア
266nm と 355nmの2種類の紫外(UVレーザー)により、熱影響が少なく高品質な微細加工 / マーキングが可能!

■SEMIエリア
検査ニーズに合わせた最適なご提案が可能!
半導体業界向けに幅広い検査 / 測定装置をラインナップ!


<第29回 液晶・有機EL・センサ技術展(ファインテック ジャパン) 概要>

  • 開催日:2019年12月4日(水)~12月6日(金)10:00~18:00(最終日のみ 17:00まで)
  • 会場名:幕張メッセ 
  • 小間番号:7ホール 46-3
  • 入場料:無料
  • 主 催:リード エグジビション ジャパン 株式会社
  • 公式サイト:https://www.ftj.jp/ja-jp.html

 



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2018.12.11

「インターネプコンジャパン」出展のお知らせ

「インターネプコンジャパン」はエレクトロニクス機器の多機能化・高性能化を支える、世界最先端の製造・実装技術展です。

当社では半導体及び電子部材市場向けのレーザーマーカー、レーザー加工機、外観検査装置を出展いたします。

貴社の「トレーサビリティ」向上に貢献する幅広いラインナップをご用意しているとともに、ご要望に合わせたカスタマイズも可能です。お気軽にご相談ください。

心よりご来場をお待ちしております。
 

□展示会名:第48回インターネプコンジャパン
□会  期:2019年1月16日(水)-18日(金) 10:00-18:00(最終日のみ17時まで)
□会  場:東京ビッグサイト
□小間番号:E9-17(東2ホール)
□出展内容:レーザーマーカー、レーザー加工機、外観検査装置
□URL:https://www.nepcon.jp/ja-jp.html

※本件に関するお問い合わせは以下の担当部署までご連絡ください。

タカノ株式会社 南平工場 半導体システム営業部 電話:0265-85-4080

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2018.11.19

「SEMICON Japan 2018」出展のお知らせ

SEMI主催の展示会「SEMICON Japan 2018」はエレクトロニクス製造サプライチェーンの国際展示会であり、当社では半導体及び電子部材市場向けの外観検査装置・レーザーを出展いたします。貴社の「トレーサビリティ」向上に貢献する幅広いラインナップをご用意しているとともに、ご要望に合わせたカスタマイズも可能ですのでお気軽にご相談ください。

皆様におかれまして年末のお忙しい時期と思いますが、心よりご来場をお待ちしております。

 

□展示会名:SEMICON Japan 2018

□会  期:2018年12月12日(水)~14日(金) 10:00~17:00

□会  場:東京ビッグサイト(東展示場・会議棟)

□小間番号:2613(東2ホール)

□出展内容:外観検査装置(ウェハ向け、パターン付きフィルム向け)、レーザー(UVマーカー等)

 

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SEMICON Japan 2018     《2018年12月12日(水)~14日(金)東京ビッグサイト》

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ご来場前に入場登録をお願いいたします。

☆ 展示会入場登録>> http://www.semiconjapan.org/jp/register

☆ セミナー申込>> http://www.semiconjapan.org/jp/programs-sessions

来場登録後のログイン画面からもお申込みが可能です。

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※本件に関するお問い合わせは以下の担当部署までご連絡ください。

タカノ株式会社 埼玉事業所 半導体システム営業部 電話:048-424-8234

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2017.12.28

インターネプコン出展のお知らせ

さて、このたび弊社では第47回インターネプコンに弊社製品を出展致します。
ぜひお立ち寄りいただきますようお願い申し上げます。

展示会名:第47回インターネプコン
会  期:2018年1月17日(水)・18日(木)・19日(金) 10:00~18:00 (最終日は17:00まで)
会  場:東京ビッグサイト(〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1)
小間番号:E9-15 (東1ホール)

出展製品・PR:

①UVレーザマーカ/加工装置
 難加工材への微細加工/マーキングに最適

②レーザーリフトオフシステム
 ※実機を展示します。

③半導体・電子デバイス向け検査装置
■外観検査装置 Vi シリーズ
■高さ検査装置 Altax シリーズ


本展示に関するお問い合わせ、当日のアポイントなどは下記連絡先までご連絡ください。
担当:松崎(Tel : 0265-85-4080)

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